Compact Modeling Of Deep Submicron CMOS Transistor With Shallow Trench Isolation Mechanical Stress Effect [TK7871.99.M44 T161 2008 f rb]. - Tan, Philip Beow Yew (2008)
Thesis ini memperkenalkan satu model padat, dua model berasaskan empirikal dan satu model berasaskan fizikal untuk kesan tekanan mekanikal Pengasingan Peparit Cetek (STI) ke atas transistor CMOS di bawah submikron.