A Built-In-Self-Test Arithmetic Logic Unit (A BIST ALU) / Suhaila Ab. Aziz
Perkembangan pesat teknologi. litar bersepadu telah merintis kepada perkembangan pembinaan litar sersepadu berskala besar (Very Large Scale Intergrated Circuit - VLSI). Dalam usaha meningkatkan prestasi, dan kebolehpercayaan litar-litar VLSI yang dibangunkan, pembangun perlulah memastikan ia bebas d...
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis |
| Published: |
2003
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://studentsrepo.um.edu.my/9885/ http://studentsrepo.um.edu.my/9885/1/Suhaila_Ab._Aziz_%2D_Academic_exercise.pdf |
| Summary: | Perkembangan pesat teknologi. litar bersepadu telah merintis kepada perkembangan pembinaan litar sersepadu berskala besar (Very Large Scale Intergrated Circuit - VLSI). Dalam usaha meningkatkan prestasi, dan kebolehpercayaan litar-litar VLSI yang dibangunkan, pembangun perlulah memastikan ia bebas daripada sebarang bentuk kecacatan atau ralat. Ini merupakan pendorong kepada perkembangan kaedah Design For Testability (OFT) yang berfungsi untuk. membantu para pembangun bagi kecacatan litar. Built-Jn-Self-Test (BIST) merupakan salah satu teknik yang menggunakan konsep menggabungkan litar ujian bersama litar yang sedang diuji. Matlamat utama BIST adalah untuk mengurangkan pergantungan litar yang direkabentuk kepada penguji dan memperoleh kemudahan ujian pada kelajuan operasi kelajuan sistem dengan liputan kegagalan yang tinggi. Ia meliputi tiga fungsi utama iaitu; penjanaan vektor ujian, penggunaan vektor ujian dan analisis pengenalan (signature analysis). Sebagai permulaan kepada pembangunan BIST, 8 bit Arihtmetic logic Unit (ALU) telah digunakan sebagai litar untuk diuji. |
|---|